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機器の概要
主な研究業績 マニュアル (PDF 25KB)
高分解能質量分析装置 JEOL JMS-700 MStation
高分解能質量分析装置 JEOL JMS-700 MStation

  本装置は高真空中で、物質にイオン化ポテンシャル以上のエネルギーを与えイオン化し分子イオンを与えたり、さらに開裂しフラグメントイオンを与えるハイエナジ−型マスです。これらのイオンを磁場中で 質量(m)と電荷(z)の比(m/z)の大きさにより分離することにより分子の質量数、構造の情報を得ることが出来ます。イオン化の方法としてはEI, CI, FABが可能です。又、高分解能の測定も可能な磁場型マスです。

■測定依頼の方法

  • 測定依頼書に必要事項を記入の上、サンプルを添えて機器分析施設(302 質量分析室-1)入口まで申し込んで下さい。

  • 依頼書には必ず指導教官の印(教授印)が必要です。また、必要事項を正確に記入して下さい。(融点、分子量、構造式、溶媒などは測定条件を決めるのに必要です。)

  • サンプル名には英数字しか使用できません。(α, β, γ.... or ・, ・, ・... 日本語等は使用不可)また、O or 0、I or 1、2 or Zなどまぎらわしい字も正確に書いて下さい。

  • サンプル量はサンプリングの関係上1mg程度必要です.(多すぎてもサンプリングしにくくなります。)

  • その他不明の点は測定者にお尋ねください。
[設置場所]
302 質量分析室-1
[お問い合わせ]
機器分析施設 入口利之 内線4832
E-mail : iriguchi@gpo.kumamoto-u.ac.jp
[申込書]
MSスペクトル測定依頼書 (PDF 83KB)


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